粗糙度轮廓仪使用方法_新闻资讯_武汉斯玛特仪器有限公司

常见的粗糙度等测量仪器有哪些？

发布时间：

2020-12-10 20:16

电子测量仪

电子测量仪器具有独特的关联战略性产业，它自身的发展好坏，对整个国民经济特别是电子信息产业的发展有着十分明显的影响。我国的电子测量仪器市场庞大，需求量大，电子测量仪器对电子信息产业的发展起到至关重要的作用。

一般测量工具和3D测量工具(三坐标测量机又叫三次元) 三坐标测量机又叫三次元，它可以测量很多复杂的空间尺寸：如模具和汽车产品。
测量仪器是为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准，测量仪器一般都具有刻度，容积等单位。

测量仪器的概念其基本内容包括：精度、误差、测量标准器材、长度测量、角度测量、形状测量、传统光学仪器。在精密测量上的应用等等。

二次元

二次元又称影像仪，粗糙度仪，影像测量仪，二维影像测量仪等，自动影像测量仪。

三坐标测量仪

三坐标测量仪依操作方式分类有手动、马达驱动和CNC等三种型式。

光学式表面粗糙度轮廓仪和机械式表面粗糙度轮廓仪有什么区别

发布时间：

2020-12-05 20:15

目前，测量表面粗糙度分为两类方法：提供表面图像或层析图，另一种是光散射法，它提供表面定量的统计信息，它也能给出表而RMS粗糙度或功率谱但不是表面层析图。图3示出不同类型表面特性及其适于这些特性的测量技术。其中表面特性横向尺度为表面空间波长或简称表面波长，取对数标尺。
各种显微镜给出表面形貌：从光学显微镜，扫描电子显微镜和透射电子显微镜到扫描触针式显微镜，这种扫描触针式显微镜能提供原子量级的纵向和横向表面层析图。
扫描隧道显微镜（STM-scanning Tunnelling Microscope）.可以用于测量导电表面并给出层析图，对于大多数非导电的光学表面，表面层析图和轮廓可以用原子力显微镜（AFM-atomic Force Microscope）测量。透射电子显微镜（TEM-transmisson Electron Microscope）和一种新型扫描透射电子显微镜（STEM-scanning Transmission Electron Microscpe）给出薄膜表面轮廓图是非常适用的。一种外差式相衬或称Nomarski光学显微镜较之STM观测光滑表面粗糙度更有利，其使用倍率约100X~1000X之间。

对于大多数光滑表面，用上述显微镜、机械式或光学式轮廓仪都可以给出表面粗糙度定量信息。此外，用下面将提到的光散射法也能给出表面粗糙度的定量特性。机械式轮廓仪和光学表面粗糙度仪的校准和定标在美国国家标准技术研究所和英国国家物理实验室。

光学式和机械式轮廓仪的区别

机械式轮廓仪
光学式轮廓仪

优点

有大的横向和高度测最节园

价格较便宜

不会损伤表面

使用方便/快速/简单/信息大

在亚纳米区域灵敏度更高

缺点

易损伤表面

测量时间长

横向分辨率受限于光学系统特性和光束照射表面

被测的不高于入射波长之半

价格贵

旋转体圆柱表面粗糙度如何测量？

发布时间：

2020-10-26 20:44

接触法测量方式的粗糙度仪是目前工程表面测量中应用最为广泛的一种。一般接触式粗糙度仪都是测量平面或者近似直线的微小平面，而对于旋转体表面进行切向测量的比较少。在实际应用中，很多工件的重要工作表面都是曲面，这些曲面的表面特征对使用性能有着非常重要的作用。这就要求粗糙度仪具有测量平面和曲面等多种表面（或沿多个方向测量）的功能。特别是对一些轴向加工或由特种工艺形成的圆柱曲面而言，只进行单纯轴向的测量显然不符合工程的要求，还必须对原有的粗糙度仪进行技术改造，使其具有沿圆周切向测量的能力。为此，研制具有测量圆弧或圆柱表面能力的粗糙度仪非常必要。

表面粗糙度的测量是一个随机的动态过程。在对表面粗糙度测量的研究中，假设粗糙度纹理是各向同性的，也就是说，无论测量的方向如何，表面都有相同的微观几何性质。而事实上，大多数机械加工过程产生的表面都具有很强的方向性。工程上认为，测量的主方向应当垂直于加工纹理，就是加工痕迹的线条方向。纹理的种类有平行、垂直、相交、多重方向、微粒状、圆形、放射状等。

因此对由不同加工方法获得的表面，其粗糙度的测量应该区别对待。如图1所示为不同加工方式所形成的轴的局部表面放大图。显然加工方法不同，所成型零件的表面粗糙度波形完全不一样。为保证测量精度，对于特种加工成型的金属零件，在其表面粗糙度的测量中设计旋转式工作台，使测量方向沿圆柱曲面的圆周切线方向。

误差

对回旋体表面进行测量过程中，既要考虑表面粗糙度误差，表面波度、圆度、圆柱度等形位误差，也要考虑零件和测头的安装误差和旋转工作台的旋转误差等。

安装误差

测量零件以圆柱体为主，一定要考虑工件安装的偏心误差和测头安装误差等。圆柱轴线安装偏心e引起的误差为：refe2sin22φ=其中φ为测点半径与x坐标轴的夹角。测头安装偏离圆柱体轴线（偏角β）引起的误差为：()rfpΔ≈22β其中Δr为测头装偏引起的半径变化量。

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