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Mahr马尔台式粗糙度仪XR20

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Mahr马尔台式粗糙度仪XR20

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产品描述

MarSurf XR 20 可以提供给您所需要的一切, 您可以开始从
Mahr 高级别的表面测量设备中获益。 该设备囊括了实验室和
车间所有常用的, 基于国际标准的测量参数和轮廓。
优化的结构和简易的操作设计, 使得该高效率设备更易使用。
MarSurf是Mahr积累数十年表面计量学的经验, 结合未来焦点技
术产生的最新计量设备。
MarSurf XR 20 利用Mahr 聚焦未来的粗糙度评定软件。

技术特征

粗糙度评定软件特征:
• 可选择 80 种测量参数 R, P 和 W 轮廓 (依照 ISO/JIS 或
MOTIF (ISO 12085) 标准
• 依照Ls 带通滤波标准; Ls 带通滤波可灵活开启
• 监察公差及统计所有数据
• 综合纪录
• 在 Teach-in 模式下, 快速产生测量程序

自动选取标准截止波长和扫瞄长度功能 (专利)
• 根据Ra 或 Rz 的参数规格, 支持不同校准方法(静态和动态)
• 可设定维护和校准周期
• 针对客户实际应用, 具备非常大的测量范围
• 可选择不同的配置方式
• 可设置不同用户层次, 通过密码保护, 避免操作者错误操作或
改动设定, 并可确保未有权限人员不能使用
• 允许多个测量结果甚至多个零件的测量结果在一个文档中处
理和打印

技术数据

MarSurf XR 20. 技术数据
测量原理 探针测量法
传感器 R 测针, MFW 250
Focodyn*, LS 1* 和 LS 10* 光学传
感器 (*只适用于以下驱动器
PGK 120 或 GD 120 CNC)
驱动器 PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120,
GD 120 CNC
测量范围 MFW 250 ±25 μm, ±250 μm,
(up 至 ±750 μm); ±1,000 μin,
±10,000 μin (可达 ±30,000 μin)
轮廓分辨率 / 分辨率
垂直方向 ±25 μm / 0.7 nm
(±1,000 μin / 0.02 μin)
±250 μm / 7 nm
(±10,000 μin / 0.2 μin)
±2500 μm /50 nm
(±100,000 μin / 2 μin)
约 100,000 步距/测量范围
水平方向 点间距依照 DIN EN ISO 3274 标准
(5.6 mm 测量长度上约 11,200 点;
用户可自定义, 最多 240,000点)
轮廓类型 D, P, W, R (轮廓可倒转)
选配: 理论波度轮廓
滤波器类型 轮廓滤波器依照 DIN EN ISO 11562
标准 (数字, 相位滤波器) RC 滤波器
(数字)
特殊滤波器依照 DIN EN ISO 13565-1
K1 标准
形状 ARC 滤波器
截止波长 0.08 mm; 0.25 mm; 0.8 mm; 2.5 mm;
8 mm/可手动输入
(.003 / .010 / .032 / .100 / .320 in)
扫瞄长度 自动; 0.56 mm; 1.75 mm;
5.6 mm; 17.5 mm, 56 mm,
(.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 in),
可调
取样长度 1 至 50 (默认值: 5)
特殊扫瞄长度 0.1 mm 至提供长度
可调 (0.008 in 至 12 in)
低通 Ls 2.5 μm / 8 μm / 25 μm
(100 μin/ 320 μin / 1,000 μin)
依照 DIN EN ISO 32749标准, 可自由选
择和关闭

测量速度 (Vt) 0.1 mm/s 和0.5 mm/s
(0.004 in/s, 0.02 in/s)
参数
粗糙度参数:
Ra, Rq, Rz (Ry 根据 JIS 符合 Rz), Rmax, RPc, Rz (JIS), Rt, Rp
(Rpm 根据 ASME 符合 Rp), Rv, R3z, RSm, RS (符合S根据JIS), Rsk,
Rku, Rdq, Rlq, Rdc, R HSC, RMr*, RMr*, RMr*
核心粗糙度参数
Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo
P 轮数参数:
Pa, Pq, Pt, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Plq, Pdc, P HSC, PPc, PMr*,
PMr*, PMr*
W 轮廓参数:
Wa, Wq, Wt, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, WMr*, WMr*,
WMr*
Motif 参数 (ISO 12085):
R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, Cpm, CR, CF, CL
ISO 5436 参数:
Pt5436, D
参数列:
Rz-L, Rp-L, R3z-L, Rdc-L, RMr-L,
Pdc-L, PMr-L
"外貌波度轮廓" 选配:
WDSmMin, WDSmMax, WDSm, WDc, WDt
特征曲线 轮廓
材料曲率 (Abbott-Firestone 曲线)
振幅密度曲线 (ADC)
校准 静态和动态, 通过Ra或 Rz
校准周期 是, 有监察
公差显示 有 (对每一个值)
用户权力 有 (可设定不同层次权限)
自动功能 依照 DIN EN ISO 3274 标准, 自动选取截
止波长
统计 X, S, max., min., 非公差区间, 无效测量
语言 英文, 法文, 德文, 其他可选
软件要求 WINDOWS XP
MarSurf XR 20 订货号 6268350
包括计算机和标准控制单元
* 材料曲线计算参照中线或 CREF

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暂未实现,敬请期待
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