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马尔粗糙度测量设备 MarSurf VD 280

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产品描述

根据测量任务的不同，操作员可以更改用于表面粗糙度的BFW粗糙度探针系统或用于轮廓测量的C 11轮廓探针系统（可热插拔）。新系统具有高动态c11轮廓探测系统与高精度BFW探针系统相结合的优点，特别适用于精细表面。

新的测量站概念集速度、可靠性和灵活性于一体。

其目的是提高贵公司系统的盈利能力。

测量站使用用户友好的MarWin软件（MarWin Easy Roughness&Contour或MarWin Professional Roughness&Contour）进行操作。

创新技术：快速轴

X轴定位速度高达200 mm/s

轮廓测量比其前身MarSurf PCV或MarSurf cd120快25倍

表面测量比MarSurf gd120快40倍

默认情况下，Z轴完全支持CNC

Z轴的速度大约是先前Mahr Z轴速度的两倍比市场上的标准Z轴快5倍

两个用于测量任务的参考探针系统

轮廓探测系统C 11

基于集成芯片的探针臂识别

标准测量范围达70 mm；最大100 mm，探头臂长490 mm

磁性探针臂固定器，无需工具即可更换探针臂

触摸探头结合了鲁棒性和动态性

可选：可将粗糙度值确定扩展到轮廓

粗糙度探头系统

通过磁性探头臂架，方便更换探头臂和保护探头臂

探针臂安装允许在不使用工具或适配器的情况下从标准测量更改为横向测量

探头系统的扩展

创新的工件夹紧系统

尺寸为390 x 50 mm的安装板

集成60 mm TY调整

安装板和集成的TY调整的组合使得额外的XY工作台多余

低工件设置支持良好的短测量回路，这对测量结果有积极的影响

技术数据	MarSurf VD 280	MarSurf VD 140
测量速度（文本）	Up to 10 mm/s	Up to 10 mm/s
扫描长度末尾（X 方向）	280 mm	140 mm
扫描长度开始（X 方向）	0 mm	0 mm
导块偏差	0.07 µm / 20 mm (with probe system BFW 250)	0.07 µm / 20 mm (with probe system BFW 250)
	0.35 µm / 60 mm	0.35 µm / 60 mm
	0.4 µm / 140 mm	0.4 µm / 140 mm
定位速度（文本）	0.02 - 200 mm/s (in X)	0.02 - 200 mm/s (in X)
测量范围 mm	with probe system BFW 250	with probe system BFW 250
	500 µm (±250 µm) for probe arm length 45 mm	500 µm (±250 µm) for probe arm length 45 mm
	1500 µm (±750 µm) for probe arm length 135 mm	1500 µm (±750 µm) for probe arm length 135 mm

	with probe system C 11	with probe system C 11
	70 mm with probe arm length 350 mm	70 mm with probe arm length 350 mm
	max. 100 mm with probe arm length 490 mm	max. 100 mm with probe arm length 490 mm