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3D光学轴类测量仪

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为保证粗糙度仪测量精度,减少人为误差,确保粗糙度仪测量过程的一致性,特制定本规程。应用领域:这一规则用于校准表面粗糙度比较样块基本技术规程:JF1099-2003表面粗糙度比较样块的标定规范工艺要求和校验条件:室温(20±5) 内部湿度:709RH以下所用仪器设备:利用粗糙度仪对标定表面粗糙度比较样块运行方法和步骤:采样长度的选择是根据样块标记的加工方法和Ra标称值,根据选定的采样长度(l),选择(i)长度非普通取法:把粗糙度测量仪接上电源,装上支架和高度调节装置,把探针放低,在水平表面上测度量。与此同时擦干样块表面设置:按Stat打开仪器,再按Ltc键,选择所需的采样长度和评定长度在探针针尖下面放样块,如果高度不够,可调高度调整器按下stat键54.3开始测量。按顺序在10个均匀分布的样块上测量得到的R值用平均值作为标定的结果。计算:Ra值的标准偏差:s=\\frac{1}{R_{e}}\\frac\\sqrt{\\sum_{i=1}^{n}(R_{e-i}^{2}-n\\overline{R}})^{2}}{n-1}\\times100\\%或者Ra值的标准偏差:s=\\frac{1}{R_{0}}\\frac{\\sqrt{\\sum_{i=1}^{n}{2}-n\\overline{R}_{s}^{2}}}{n-1}\\times100\\%公式:Ra相同块表面上的平均Ra:R一第i个测量位点的Rn一个实测地点数目S的计算公式为:S值不得超过表1所示。如有轻微偏差,可增加10至1。量位测量:所有量位测量数据一起计算测试结束后,关闭仪器并做好原始记录
粗糙度仪应该如何去看,首先你要了解一些粗糙度仪基本图符,这样方便之后你看粗糙度仪的读数时,可以理解。这里给大家介绍一下基本图符包含两条长度不等的直线,相对于代表所示表面的直线倾斜约60°,如图1所示,图1中的基本图符不得单独使用而不附带补充信息,用来提供总的含义如果基本图符与附加的,补充的信息)一同使用,无须做下一步决定,例如,为获得规定的表面是否需要去除材料,或是否不允许为获得规定的表面去除材。    如果需要去除材料(例如:通过机加工),以获得指定的表面,应按图2所示,在基本图符上添加横标。图2所示的扩展图符不得单独使用(而没有补充信息)。除了以上基本含义,还有测量方法,加工纹理方向等其他一些定义,都会在粗糙度的符号上定义。如不允许通过去除材料来获得指定的表面,应按图3所示,在基本图符上添加一圆圈该扩展图符的特殊的用法。  一旦需要表达对表面特征特性的补充要求,在图1至图3所示的任一图符的长边上应添加一横线,结果如图4所示。为了在书写文本中使用一例如,报告或合同一图4a)的文字表述为APA(即允许以任何方法获得),图4b)的文字表述为MRR(用去除材料获得)图4c)的文字表述为NMR(用不去除材料的方法获得)。a)允许以任何方法获得     b)应去除材料获得    c)不去除材料获得    除了这些基本图符以外,还有其他很多的测量方法,加工纹理方向等,都会在粗糙度的符号上有所定义。所以想要读粗糙度仪,一定要了解更多的图符知识,具体的粗糙度符号可以参考ISO1302标准,这是专门讲粗糙度符号的。PS:每个国家间的标准可能都有区别,一定要查好相应国家的标准哦。    更多有关粗糙度仪的知识,可以在我们官网上了解,也可以拨打电话,有专人为你介绍更多有关粗糙度仪的知识。如果这篇文章对大家有帮助欢迎大家收藏我们的网址哦。
粗糙度仪的检定方法以及便携式粗糙度仪的使用说明
便携式光学表面轮廓仪
便携式光学表面轮廓仪
置顶
2020-06-06 20:39

便携式光学表面轮廓仪的性能介绍

便携式光学表面轮廓仪的干涉成像系统采用Mirau干涉显微物镜,放大倍率为20倍;采用PZT(压电陶瓷微位移器)实现相移的位移系统;测量台和整体框架的机械机构设计可实现正置和倒置两种工作模式,使被测件的横向尺寸不受限制,提高了仪器的适用性;通过数字CCD与软件系统采集处理干涉图像,对干涉图进行解算获得被测面的轮廓。若需要对被测件的批量测量,切换被测件时被测面和系统么间的工作距离变化很小,只需微小的调节便可W快速测量,具有较高的测量效率。

便携式光学表面轮廓仪的实物外观如图所示,由显示器、工控机、驱动电源箱和干涉显微镜系统组成:



仪器的主要技术指标为:









技术
9999340 - MESSPLATZ XC 2 MarWin MarSurf
9036396 - Messplatz MarSurf XC 2 mit ST 500 ohne PC


接触速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
0.1 至 1 mm/s


测杆长度
175 mm, 350 mm
175 mm, 350 mm


测量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
0.2 mm/s 至 4 mm/s


针尖半径
25 µm
25 µm


扫描长度末尾(X 方向)
120 mm
120 mm


分辨率
Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆)
Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆)


 
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm


扫描长度开始(X 方向)
0.2 mm
0.2 mm


取样角
在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°


定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s


 
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s


导块偏差
< 1 µm(超过 120 mm)
< 1 µm(超过 120 mm)


测量范围 mm
(Z 方向)50 mm
(Z 方向)50 mm


扫描长度(文本)
0.2 mm 至 120 mm
0.2 mm 至 120 mm


测量力 (N)
1 mN 至 120 mN
1 mN 至 120 mN




通过H维图像显示功能,可W方便的观察被测表面的H维形貌和细节特征。该功能具有下特点:

(1)支持光照效果、网格效果、漫反射效果兰种显示模式;

(2)可任意旋转、缩放,实现360度全方位观看;

(3)光强可调,便于观察细节形貌;

(4)支持横纵比例与采样密度调节,实现信息量与处理速度的平衡。

光学表面粗糙度轮廓仪测量技术方法
光学表面粗糙度轮廓仪测量技术方法
粗糙度廓测量仪是广泛应用的自动化精密测量设备,采用一条轮廓中线作为评定基准,借助评定参数:轮廓算术平均偏差 Ro、微光不平度十点高度Rs、轮廓最大高度Ry、轮廓微观不平度的平均间距Sm、轮廓的单峰平均间距S、轮廓支撑长度率tp等六个参数对表面质量进行评定,终得到所需表面粗糙度的测试检测仪器,可满足对表面微观与宏观几何形貌进行研究的需要。具有测量精度高、技术性能优良、使用范围广泛、操作简便等优点。由
海克斯康三坐标测量仪使用教程
海克斯康三坐标测量仪使用教程
海克斯康三坐标测量仪该测量系统具有近40年的专业制造经验,能够在1200x1000x575mm空间范围内实现测量误差“E”值在0.3+L/1000[μ]以内,从而成为业界的测量精度标杆。针对极具挑战性的测量任务,以及高精度的质量要求和工艺控制任务,LeitzInfinity公司采用了严格的设计和制造技术,并配以精密的检测技术,全面诠释了超高精密测量。通过配置具有超高性能和低探测力的接触式LSP-S4探测系统,LeitzInfinity公司可以实现对光学镜头和曲面的超高精度检测。配有超高精度非接触式传感器,控制形位公差,可对任何材料的表面(如:不明材料、敏感材料、镜面和涂层等)进行高精度测量,甚至拓广到微观测量。    技术性:  1.“封闭式构架”及移动平台设计,整体结构采用花岗岩和铸钢-超高精度测量机,结构设计最合理,保证了高精度性能和稳定性  2.预载空气轴承和中心驱动——保证工作台的无摩擦运动,减少偏移和扭矩。  3.独特的燕尾导轨系统-确保移动顺畅  4.定位在导轨附近的高清晰度精密陶瓷光栅——高清晰度可达0.001微米,阿贝误差小  5.伺服驱动与精密滚珠丝杠传动——保证机器的最高加速度和定位精度  6.完善的安全和碰撞保护-避免碰撞并降低维护费用  7.集成温度传感器-当温度变化时对误差的补偿  8.配置远程诊断功能--大大减少服务停机  9.与QUINDOS软件合作--能够完成复杂的精密零件测量工作  10.具有现代设计思想的电气控制系统--能够对复杂的运动轨迹和测量数据进行评估  11.可变高速扫描技术(VHSS)--目前合适的扫描速度是基于工件的几何特征和公差来确定的,从而提高了检测效率,可以实现高效测量和扫描已知或未知轮廓。  12.与LSP-S4探测系统相配合,可以完成超高精度光学透镜和表面检测任务。  13.专利:LeitzLSP探测系统-具有极高的探测精度。使用超长延长杆时,任何探头的偏转弯曲均可自动进行补偿。  14.与LeitzLSP-S2Scan+三维扫描探测系统配合使用,探测长度可达800毫米。  生产参数:   MPEE:从0.3开始 更多三坐标三次元测量仪器产品功能和报价问题,您可关注http://www.smtyq.com/nav/9.html或给我们来电:027-84391837,武汉斯玛特仪器有限公司将最快时间回复您。