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校准测量仪

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校准测量仪

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产品描述

大型通用长度测量仪器,直接测量范围大。配备水平基床的比较仪(高度同质、坚硬花岗石)
X 轴测量系统:Heidenhain 增量,精密长度测量系统,100 mm 长的测量元素
基床中载物台左和右侧的整个基床长度上的 Heidenhain 增量入射光测量系统
Z 轴测量系统:RENISHAW 增量,精密长度测量系统,长度 80 mm

  • 综合测量系统,提供 100 mm 范围内超精确测量,以及测量元素和逆轴承整个移动范围内的标准精度测量。测量元素和基床测量系统构成的 X 测量

  • 特别推荐用于测量较大的测量对象,也适合测量较小的测量对象

  • 手动操作测量轴

  • 配有平滑手动定位测量元素的空气轴承以及逆轴承

  • 对象高度可通过按钮调整(以及定位预定义的增量)

  • 使用 3 个传感器在线测量温度

  • 计算机辅助仪零点稳定和校正系统误差 (CAA)

  • 在整个测量轴设置范围内稳定的测量能力

  • 计算机辅助校正温度和测量力影响

  • 大载物台带 Z 方向精密引导,负载 25 kg

  • Mahr 828 WIN 测量和评估软件在 MS Windows 下运行

  • 可选使用测量轴扩展

  • 技术数据

  • 应用

  • 附件

  • 版本

    技术 ULM 520 S-E ULM 1000 S-E
    设备尺寸 1080 x 380 x 480 1500 x 380 x 480
    外测量的测量范围 [mm] 0 至 520 0 至 1025
    内测量的测量范围 [mm] 0.5 至 365 0.5 至 870
    直接测量范围 [mm] 外测量:0 至 520 外测量:0 至 1025
    内测量:0.5 至 365 内测量:0.5 至 870
    测量不确定性 MPEE1 (L in mm) [µm] 仅 ABBE 测量元素:MPE E1 ?(0.09+L/2000) 仅 ABBE 测量元素:MPE E1 ?(0.09+L/2000)
    带基床测量系统:MPE E1 ?(0.6+L/1000) 带基床测量系统:MPE E1 ?(0.6+L/1000)
    测量力 [N] 0.2 ; 1.0 - 4.5 ; 11 0.2 ; 1.0 - 4.5 ; 11
    可重复性 [µm] Abbe 测量元素:?0.05 Abbe 测量元素:?0.05
    基床测量系统: ?0.2 基床测量系统: ?0.2
    设备长度 [mm] 1080 1500
    质量 [kg] 160 215

  校准

  • 平面塞规和环规

  • 校正环规

  • 卡规

  • 球形量块和内径测微计

  • 量块

  • 螺纹规

  • 圆锥螺纹规

  • 齿轮量规

  • 锥度规

  • 度盘式指示器

  • 杠杆比较仪

  • 2 点内径规

  • 外径测微计

  • 2 点内部测微计

大量附件和模块化组件,可解决各种测量任务,包括以下测量:

  • 螺纹规

  • 锥度规

  • 圆锥螺纹规

  • 齿轮

价格电联或面议

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暂未实现,敬请期待
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