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马尔粗糙度测量站MarSurf XR 1

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马尔粗糙度测量站MarSurf XR 1

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产品描述

MarSurf XR 1.  用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的最新成就。

  • 超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
  • 带通滤波器 Ls 符合当前标准;Ls 也可根据需要关闭或更改。
  • 全面的测量记录
  • 快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
  • 根据标准选择截止和扫描长度的自动功能(专利)
  • 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法(静态和动态)
  • 可调维护和校准间隔
  • 多种测量站配置可使用自定义应用
  • 多种选项,提高系统灵活性
  • 各种用户权限级别,避免设备被滥用,避免未授权人员使用

应用:

机器建造
轴承、轴、支架、阀门,工程和精密工程业的各种组件

汽车工业
转向、刹车系统、变速箱、机轴、凸轮轴、气缸盖、气缸体、涡轮增压器

医疗
髋关节和膝关节内用假体的表面粗糙度测量

航空
涡轮组件

光学
各种光学组件

 

附件常规软件选项

  • MarWin 主波纹度选项 (WDc)
  • ISO 13565-3 表面参数选项
  • QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
  • 轮廓处理选项
  • 用户定义参数选项(还需要应用工程团队的参数或工作)
  • MarSurf XR 1 / XR 20 选项的轮廓 1(结合 MarSurf SD 26 驱动装置)
  • 所有选项都在一个 MLK 上


软件选项

  • 扩展评定选项
  • 多次测量选项
  • 扩展测量记录选项
  • 脚本程序集成选项
  • 数字 I/O 设置选项

 

测量原则

探针法

输入

BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置

测量范围 mm

+/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统

 

350 µm 适用于 PHT 测头系统

过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 11562 标准高斯滤波

 

ISO 16610-21/OSO 16610-31 标准滤波

扫描长度(文本)

MarSurf GD 26 / SD 26:自动;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,

 

测量至挡块,可变

 

* 扫描长度取决于 驱动装置

 

RD 18:自动;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm

采样长度数量符合 ISO/JIS

1 至 50(默认:5)

探针

2 µm

测量力 (N)

0.75 mN

表面参数

超过 80 种

 

符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

 

未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加
暂未实现,敬请期待
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